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Coxem > 掃描式電子顯微鏡
EM-30P_PQ

桌上型掃描式電子顯微鏡

Benchtop SEM 型號：EM-30(P)
EM-30 系列是一款高解析度桌上型掃描式電子顯微鏡 (SEM)，其規格和功能是同價位的其它 SEM 無法比擬的。
在對 EM-30 系列進行評估之後，您就可以找到最好的小型掃描式電子顯微鏡了。
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產品特點 產品規格 Features Specifications

  • EM-30 系列是一款高解析度桌上型掃描式電子顯微鏡 (SEM)，其規格和功能是同價位的其它 SEM 無法比擬的。
    在對 EM-30 系列進行評估之後，您就可以找到最好的小型掃描式電子顯微鏡了。

    應用

  •   EM-30 EM-30AX EM-30+ EM-30AX+
     放大倍率 15-150,000X
    放大倍率 30kV 時 < 5nm
    加速電壓 1 - 30 kV（可依 1 kV比例調整）
    電子源 預定心鎢絲燈芯
    探測器 SE SE,EDS BSE  BSE, EDS
     樣品尺寸  70mm (W) x 45mm (H)
    X-Y/T 橫移 35x35mm / 0 - 45º
    特點

    測量工具
    遠端控制
    自動控制 對焦、燈絲、亮度/對比
    數據輸出格式 jpg, tiff, BMP
    尺寸 400 x 600 x 550 mm
    重量  85 kgs 95 kgs 85 kgs 95 kgs
    可選購

     BSED
     CoolStage

    		   CoolStage

    30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis)
    30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included)

     

  • a high-resolution Tabletop Scanning Electron Microscope (SEM) with specifications and capabilities not matched by any other SEM in its price range. After evaluating the EM-30 Series your search will be over to find the best compact SEM available.

    application

  •   EM-30 EM-30AX EM-30+ EM-30AX+
     Magnification 15-150,000X
    Spatial Resolution <5nm at 30kV
    Acceleration Voltage  1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)
    Electron Source Pre-Centered Tungsten Filament
    Detector SE SE,EDS BSE  BSE, EDS
     Sample Size  70mm (W) x 45mm (H)
    X-Y/T Traverse 35x35mm / 0 - 45º
    Features

    Measurement Tool
     Remote Control
     Automation  Focus, Filament, Brightness/Contrast
     Data Output Format jpg, tiff, BMP
    Dimensions 400 x 600 x 550 mm
    Weight  85 kgs 95 kgs 85 kgs 95 kgs
    Options

     BSED
     CoolStage

    		   CoolStage

    30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis)
    30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included)

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