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產品綜合概述 : 頻率範圍內材料或成分的電性分析

型號：Overview

阻抗分析儀測量的是隨頻率ω/（2π）變化的復阻抗Z*（ω） = Z'（ω） + jZ''（ω），對於材料分析，我們將樣品置於二個或多個電極之間來測量它的阻抗譜。要準確分析樣品的特性，對於阻抗分析儀的要求非常高，測量結果的品質及有效性大大依賴於儀器的性能。

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產品特點

阻抗分析儀測量的是隨頻率ω/（2π）變化的復阻抗Z*（ω） = Z'（ω） + jZ''（ω），對於材料分析，我們將樣品置於二個或多個電極之間來測量它的阻抗譜。

要準確分析樣品的特性，對於阻抗分析儀的要求非常高，測量結果的品質及有效性大大依賴於儀器的性能。

實際應用中，一般大家的著眼點不僅在於獲得特別高的精度，同時更希望能以全自動的方式來測量復阻抗Z*（ω），介電常數ε*（ω）或電導率σ*（ω）。

除了頻率範圍，阻抗範圍、損耗因數 tan(δ)及相位差精度也是非常重要的性能參數。

低頻分析儀<40MHz

Alpha和Beta 介電分析儀

量程：阻抗分析範圍0.01~10¹⁴Ω , tan(δ) > 3*10^-5
結合一般阻抗分析儀和介電測量系統的特性，提高了tan(δ)的精度。
可很方便地測量幾乎所有材料及成分，測量寬頻低損耗介電，如聚乙烯。
使用軟體WinDETA。

介電分析儀 Alpha系列：
Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 2-wire input
ALPHA-L: Economical
F=3μHz... 300KHz
ALPHA-K: Universal
F=3μHz... 3MHz
ALPHA-N: Top Class
F=3μHz... 20MHz
ALPHA-T: High frequency
F=3μHz... 40MHz

介電分析儀 Beta系列：
Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 4-wire input

BETA-L: Economical
F=3μHz... 300KHz
BETA-K: Universal
F=3μHz... 3MHz
BETA-N: Top Class
F=3μHz... 20MHz
BETA-T: High frequency
F=3μHz... 40MHz

阻抗分析儀 Alpha-A

量程：阻抗分析範圍0.001 ~1015 W，tan(δ) > 3*10^-5
結合一般阻抗分析儀、介電和電化學測量系統的特性，提高了tan(δ)的精度。
可很方便地測量幾乎所有材料及成分，測量寬頻低損耗介電，如聚乙烯。
支援一系列高性能特殊功能test interfaces，如結合active sample cell，四通道高阻抗測量，高電壓/高電流測量。
使用軟體WinDETA.

Alpha–A系列：

Frequency Response Analyzer (FRA) and Test Interface for multi-purpose applications

ALPHA-AL: High resolution economical FRA

F=3μHz... 300KHz

ALPHA-AK: High resolution universal FRA

F=3μHz... 3MHz

ALPHA-AN: High resolution top class FRA

F=3μHz... 20MHz

ALPHA-AT: High resolution high frequency FRA

F=3μHz... 40MHz

三種阻抗/介電分析儀對比
Alpha-A：標準模組系列	Alpha ：單機系列	Beta：單機系列
Alpha-A標準模組測量系統是單機分析儀Alpha和Beta的擴展。配合test interfaces，功能更加強大，使用更靈活。因此推薦用於新的系統設計。 Alpha-A + ZG2 interface包含Alpha單機分析儀的所有功能。 Alpha-A + ZG4 interface包含Beta單機分析儀的所有功能。

Alpha-A主機支援通過GPIB埠自動軟硬體升級，利於將來與新研製的test interfaces配套。 Test Interfaces擴展了Alpha-A的功能，Alpha-A主機在使用過程中必須連接至少一個Test Interfaces，主機自動檢測到Test Interfaces，相應調整自身功能。除了G22，所有Test Interfaces支援自動標準電容測量，且適合導體及絕緣體樣品測量。除了HVB，所有Test Interfaces支援二通道高精頻率響應及相位增益測量。

一般用於介電、電導、阻抗測量以及相位增益譜
ZGS 二極式測量，具有與ZG2相同的功能，其結合於主動平板樣品架上，用於溫度控制系統。推薦用於可置於平板電極之間的介電或導體樣品測量，如聚合物、半導體、玻璃、液體或粉末。
ZG2 二通道測量，結合BDS1200被動平板樣品架或使用者自製樣品架。
ZG4 具有與ZG2相同的功能，另外，支援3或4通道測量，高阻抗10¹² Ω \| 10 pF，不同電壓輸入。特別推薦用於：接觸電阻大、極化程度大的樣品，如電解液、液體。低阻抗樣品，<1 Ω，如強電解液，重摻雜半導體，金屬，超導體。

高電壓Interfaces用於介電、電導和阻抗測量

HVB300，HVB1000，HVB4000高電壓Interfaces，用於直流或交流振幅，分別為±150 Vp或±500 Vp及±2000 Vp

特別推薦用於電介質、半導體及電子元件，在直流或交流高電壓下，進行：

非線性介電、電導、阻抗測量
應力狀態下材料性質測量
高阻抗樣品（>10¹⁴ Ω）的測量

相位增益Interfaces

POT/GAL 15V 10A and 30V 2A用於 Alpha-A 模組化測量系統的電化學阻抗、介電常數、電導率、2、3 和 4 極式分析以及使用恒電位 / 恒電流儀進行相位增益測量的測試介面。

POT/GAL 電壓通道輸入阻抗為 10¹² Ω | 10 pF，超出了大多數同類儀器的範圍幾個數量級，是 EIS 儀器的一大改進。

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博全國際股份有限公司