用於 XRF/EDS 的 FastSDD X 射線探測器

Amptek 專利「C 系列」X 射線視窗通過採用氮化矽（Si₃N₄）和鋁塗層，將矽漂移探測器（SDD）的低能量響應擴展到了硼（B）; 它們只被用在我們的FastSDD®上。

Amptek 在推出第一款熱電致冷探測器的同時也推出了一種液氮的替代物。 現在，通過專利“C 系列”， Amptek為常規 XRF 分析提供了一種替代鈹（Be）視窗的產品，與軟 X 射線分析的聚合物視窗相比，它具有更高的性能。
 

應用

• C1 視窗：實驗室、桌上型和掌上型儀器。 此視窗不透光，因此可以在普通的室內光線下使用。
• C2 視窗：真空應用和掃描電子顯微鏡（SEM）中的 EDS（EDX）。 C2 視窗在最低能量下效率更高，但是會透光，因此必須在黑暗環境中使用。

Amptek 低能量專利“C 系列”X 射線視窗 

NICER X 射線定時儀器上的 Amptek FAST SDD®，其中 C2 視窗在安裝遮光罩之前安裝在焦平面上。
鳴謝： NASA/Keith Gendreau

Amptek Patented “C-Series” X-ray windows utilize silicon nitride (Si₃N₄) with an aluminum coating to extend the low energy response of our silicon drift detectors (SDDs) down to boron (B); they are available exclusively with our FastSDD®.

Amptek provided an alternative to liquid nitrogen when it introduced the first thermoelectrically cooled detector. Now with the Patented “C-Series,” we offer an alternative to the Beryllium (Be) window for general XRF analysis, and superior performance as compared to polymer windows for soft X-ray analysis.

Applications

• C1 Windows: Laboratory, benchtop and handheld instruments.  This window is light-tight so it can be used in normal ambient room light.
• C2 Windows: Vacuum applications and EDS (EDX) in scanning electron microscopes (SEMs).  The C2 window has much better efficiency at the lowest energies but is not light-tight and therefore must be used in dark environments.

Amptek low energy Patented “C-Series” X-ray windows
 

A view of the NICER X-ray Timing Instrument showing Amptek FAST SDDs® with C2 windows mounted the focal plane, before light shield assembly.
Credits: NASA/Keith Gendreau